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xqjiang@rtec-instruments.cn
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Quarto 305, No. 26, Rua Central da Empresa de Shanghai, Haidian, Pequim
Pequim Zhongjing Tecnologia Co., Ltd.
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Interferímetro de luz brancaResumo:
A Rtec é fabricada no Vale do Silício, na Califórnia. Tem sido usado por vários laboratórios, universidades e indústrias. A série UP combina quatro modos de imagem em uma cabeça. É possível executar vários testes na mesma plataforma de teste e converter o modo de imagem com apenas um clique no botão. Esta combinação facilita a imagem de qualquer superfície, como transparente, plana, escura, plana, curva, etc. Cada modelo de imagem tem suas próprias vantagens e as técnicas se complementam. Essa tecnologia de integração não só facilita a análise abrangente dos dados, mas também reduz os custos de manutenção e aumenta a eficiência.
Combinação de contorno óptico 3D
1.Interferímetro de luz branca;
2. microscópio co-focal de disco rotativo;
Microscópio de campo escuro;
Microscópio de campo claro.
Especificações principais da plataforma:
Especificações do produto:
Plataforma elétrica padrão 150x150mm (opcional 210x310mm)
2. torre rotativa padrão, torre rotativa elétrica opcional
3. alcance vertical até 100mm
Fase de inclinação 6 graus
Resolução da plataforma 5.XY 0.1um
6. Modelo de montagem automática
Cabeça SigmaInterferímetro de luz branca
Cabeça Lambda -Interferímetro de luz branca+ Foco + Campo escuro + Campo claro
Aplicações
rugosidade; desgaste de volume; Altura das escadas; espessura da película; Aparência
Exemplo de imagem de teste:



A amostra acima é tirada para o contorno de superfície tridimensional em modo duplo. Usando várias tecnologias ópticas na mesma plataforma, o tester pode medir quase qualquer tipo de amostra de resolução nm. Este perfilador de superfície é equipado com um poderoso software de análise que cumpre vários padrões. O perfilador de superfície 3D em modo duplo é capaz de executar vários testes na mesma plataforma de teste, e a combinação de produtos pode ser alterada de acordo com os diferentes requisitos de aplicação técnica. Detecção experimental de padrões diferentes para a mesma área da amostra, com a mudança de padrão automatizada. A integração de várias tecnologias permite que diferentes tecnologias aproveitem suas vantagens no mesmo detector. Essa tecnologia de integração não só facilita a análise abrangente dos dados, mas também reduz os custos de manutenção e aumenta a eficiência.