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E-mail
xqjiang@rtec-instruments.cn
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Telefone
18013892749
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Endereço
Quarto 305, No. 26, Rua Central da Empresa de Shanghai, Haidian, Pequim
Pequim Zhongjing Tecnologia Co., Ltd.
xqjiang@rtec-instruments.cn
18013892749
Quarto 305, No. 26, Rua Central da Empresa de Shanghai, Haidian, Pequim
Modelagem 3DVisão geral
Rtec 3DModelagemFeito no Vale do Silício na Califórnia. Tem sido usado por vários laboratórios, universidades e indústrias. UPSérieQuatro modelos de imagem combinados em uma cabeça.Capacidade de executar vários testes na mesma plataforma de teste,Basta clicar no botão para converter o modo de imagem. Esta combinação facilita a imagem de qualquer superfície, como transparente, plana, escura, plana, curva, etc. Cada modelo de imagem tem suas próprias vantagens eItensAs tecnologias são complementares umas às outras.Essa tecnologia de integração não só facilita a análise abrangente dos dados, mas também reduz os custos de manutenção e aumenta a eficiência.

Combinação de contorno óptico 3D
Interferímetro de luz branca
Microscópio co-focal de disco rotativo
Microscópio de campo escuro
Microscópio de campo claro
Especificações principais da plataforma
Especificações do produto
Plataforma elétrica padrão 150x150mm (opcional 210x310mm)
Torre rotativa padrão, torre rotativa elétrica opcional
Alcance vertical até 100 mm
Fase de inclinação 6 graus
XYplataformaResolução 0.1um
Modelo de junção automática
Cabeça Sigma - interferômetro de luz branca
Cabeça Lambda - interferômetro de luz branca + confocal + campo escuro + campo claro
Aplicações
●Rugidade●Desgaste de volume●Altura das escadas●Espessura do filme●Aparência
Exemplo de imagem de teste

esferas revestidas DLC superfície revestida rugosa esferas

Diamante Biofilme Microfluido Canal
Revestimento de polímero Marcas de tinta Moedas
Tapete de moagem Traços de falha de alumínio Arrançamentos
Traços de falha do revestimento Canal do chip Wafer
acima paraSuperfície 3D em modo duploContrômetroamostra tirada. Usando várias tecnologias ópticas na mesma plataforma, o tester pode medir quase qualquer tipo de amostra de resolução nm. Essa superfícieContornoO instrumento é equipado com um poderoso software de análise que cumpre vários padrões. Superfície 3D em modo duploContornoO instrumento é capaz de executar vários testes na mesma plataforma de teste, e a combinação de produtos pode ser alterada de acordo com os diferentes requisitos de aplicação técnica. Detecção experimental de padrões diferentes para a mesma área da amostra, com a mudança de padrão automatizada. A integração de várias tecnologias permite que diferentes tecnologias aproveitem suas vantagens no mesmo detector. Essa tecnologia de integração não só facilita a análise abrangente dos dados, mas também reduz os custos de manutenção e aumenta a eficiência.