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O espectroscópico de infravermelho próximo USPM-RU-W da Olympus permite espectroscópias de alta velocidade e alta precisão em uma ampla gama de comprimentos de onda de áreas visíveis até áreas de infravermelho próximo. Como pode facilmente medir a refletidão de áreas finas e superfícies curvas que não podem ser medidas por um espectrofotômetro comum, Z é adequado para produtos como componentes ópticos e pequenos componentes eletrônicos.

Detalhes do produto

do Olympus.USPM-RU-W Próximo Infravermelho DifferencialEspectroscopia de comprimentos de onda em uma ampla gama de áreas visíveis até infravermelhos próximos com alta velocidade e alta precisão. Como ele pode facilmente medir a refletidão de áreas finas e superfícies curvas que não podem ser medidas por um espectrofotômetro comum, o zui é adequado para produtos como componentes ópticos e pequenos componentes eletrônicos.

Função de medição real
Usando um único dispositivo, você pode fazer uma variedade de espectroscopias de reflexão, espessura da membrana, cor do objeto, taxa de transmissão, ângulo de entrada de 45 graus de reflexão.

◆ Determinação da Reflexividade
Determine a refletidão dos pontos minúsculos da focalização da lente φ17-70μm.

◆ Determinação da espessura da película
Utilizando dados de refletidão, medir a espessura da película de camada única e camada múltipla de cerca de 50 nm a cerca de 10 μm.

• Determinação da cor do objeto
Exibe o cromatograma XY, o cromatograma L*a*b e os valores relacionados com base nos dados de refletidão.

◆ Determinação da taxa de transmissão
A taxa de transmissão da amostra plana é medida a partir da parte inferior da mesa através de uma luz paralela de φ2mm. (Opcional)

◆ Determinar o ângulo de entrada de 45 graus de refletidão
Reflete a luz paralela de φ2mm do lado para a face de 45 graus para medir a sua refletidão. (Opcional)

Determinação de alta precisão e velocidade de domínio

• Determinação de alta velocidade
A espectroscopia simultânea de todo o comprimento de onda com raster plano e sensores de linha permite medições de alta velocidade.

◆zui é adequado para medir a refletidão de peças finas, lentes
Novos objetivos foram projetados para realizar medições sem contato na área de medição de φ17 a 70 μm. Um espectrofotômetro comum não pode medir superfícies curvas, como peças eletrônicas pequenas ou lentes, e também pode realizar medições altamente reprodutíveis.

◆ Não é necessário tratamento anti-reflexo traseiro para medir a reflexão
Combinando o objetivo com a iluminação circular, sem a necessidade de um tratamento anti-reflexo na parte de trás do objeto detectado, é possível medir a refletidão zui fina de 0,2 mm*.

◆ Método opcional de medição da espessura da membrana
USPM-RU-W Próximo Infravermelho DifferencialAnálise da espessura da membrana de uma ou várias camadas com base nos dados de refletidão espectral medidos. Os métodos de medição podem ser selecionados * de acordo com o uso.

Especificações:
	Determinação da Reflexividade			Determinação da taxa de transmissão*1	Determinação de reflexo de 45 graus*1
nome	Determinador de luz diferencial de infravermelho próximo			Infravermelho Próximo Differenciador Medindo acessórios selecionados	Infravermelho Próximo Differenciador Acessórios para medição de reflexo de 45 graus
modelo	USPM-RU-W
Determinação do comprimento de onda	380 a 1050nm
Método de medição	Determinação comparativa de amostras de referência			Determinação da taxa de permeabilidade em relação ao *benchmark	Determinação comparativa de amostras de referência
Alcance de medição	Consulte as seguintes especificações para objetos			aproximadamente ø2.0mm
Determinação Reprodutividade (3σ)*2	Determinação da Reflexividade	Usando objetivos 10x e 20x	± 0,02 [%] abaixo (430-1010nm), ± 0,2 [%] (exceto o acima)	± 1,25 [%] abaixo (430-1010nm), Menos de ±5,0 [%] (exceto no registro esquerdo)
		Usando uma lente 40×	± 0,05 [%] abaixo (430-950nm), ± 0,5 [%] (exceto o acima)
	Determinação da espessura	± 1%		-
Comprimento de onda mostra a decomposição	1nm
Acessórios de iluminação	Fonte de luz halogênica JC12V 55W (vida média 700h)
Recepção de deslocamento	Tamanho da superfície: 200 (W) × 200 (D) mm Peso: 3 kg Área de trabalho: (XY) ±40mm, (Z) 125mm
Inclinação do palco	－			Tamanho da superfície: 140 (W) × 140 (D) mm Peso: 1 kg Área de trabalho: (XT) ±1°, (YT) ±1°
Qualidade do dispositivo	Corpo: cerca de 26 kg (exceto PC)			Carcaça: cerca de 31 kg (exceto PC)*3
	Caixa de alimentação de controle: cerca de 6,7 kg
Tamanho do dispositivo	Parte principal: 360 (W) × 446 (D) × 606 (H) mm			Parte principal: 360 (W) × 631 (D) × 606 (H) mm
	Caixa de alimentação de controle: 250 (W) × 270 (D) × 125 (H) mm
Especificações de energia	Especificações de entrada: 100-240V (110VA) 50/60Hz
Ambiente de utilização	Local sem vibração horizontal Temperatura: 15-30°C Umidade: 15 a 60% RH (sem congelação)

*1 Componente opcional *2 Medição sob as condições da empresa *3 O peso total do kit de medição de transmissão montado com o kit de medição de reflexão de 45 graus é de 33 kg.

Para objetos
modelo	USPM-OBL10X	USPM-OBL20X	USPM-OBL40X
Magnificação	10x	20 vezes	40 vezes
NA	0.12	0.24	0.24
Alcance de medição*4	70 milímetros	34 milímetros	17 milímetros
Distância de trabalho	14,3 milímetros	4,2 milímetros	2,2 milímetros
Raio de curvatura da amostra	±5 milímetros	±1mm até	±1mm até

*4 Diâmetro do ponto

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